仪器设备

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• 设备名称
  分光光度计
• 制造厂商
  日本日立公司
• 规格型号
  U-4100
• 所属单位
  清华大学深圳研究生院
• 收费标准
  询价
• 性能参数

  具有高性能的固体，液体，浑浊样品测试系统; 透射，镜面反射和漫反射都可测试;使用超大样品舱，样品最大可至430 x 430mm，比如玻璃板材，单晶硅片，液晶板，激光晶体，透镜组等超大、超长样品都可进行无破坏检测;紫外区最低可测至175nm。

  测定波长范围： 240-2600nm。

• 主要功能与用途

  适合半导体、光学元件、新型材料的光谱性能研究，是功能强大的分光光度系统。